檢索結果:共1筆資料 檢索策略: "電子工程系".dept (精準) and ckeyword.raw="穿隧型場效多晶矽薄膜電晶體"
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隨者電子產業的進步,傳統型金氧半電晶體在微型化之後面臨一些可靠度問題,例如短通道效應、熱載子效應、汲極引起位障降低效應、閘極引起汲極漏電流效應。然而,在高度微型化的過程中,穿隧型場效電晶體可以提供較…